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X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號變?yōu)槟M信號，經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理，計算機*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的各類及各元素的鍍層厚度。 

X熒光鍍層測厚儀分析元素范圍：S-U 

無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程，無損測試 

檢出限可達到2PPM 

分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005UM-60UM 

采用美國原裝先進的探測器，能量分辨率高 

采用美國原裝先進的AMP，處理速度快，精度高，穩(wěn)定可靠 

X光管采用正高壓激發(fā)，激發(fā)與測試條件采用計算機軟件數(shù)碼控制與顯示 

采用彩色攝像頭，準(zhǔn)確觀察拍攝樣品 

采用電動無極控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準(zhǔn)確方便 

 

X熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢：

可靠性高

由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求

：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種先進的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

快速

1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

無損

測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀

實時譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測試點

簡易

對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

性價比高

X熒光鍍層測厚儀相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。